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Vacik, J.; Hnatowicz, V.*; Cervena, J.*; 楢本 洋; 山本 春也; Fink, D.*
Fullerene Science and Technology, 9(2), p.197 - 209, 2001/05
本研究では、RBS法,NDP法及びアルファ粒子分光法を用いて、1H, 3H, 4Heや7Liがフラーレン薄膜に入射した時のstopping cross sectionsが測定された。測定値は系統的に計算値よりも大きくなった。この原因としては、イオン入射によるフラーレン薄膜の化学的状態変化と関連していると考えられる。一方energy stragglingに関しても、Bohrによる計算値よりも大きい値が得られた。これに関しては、試料薄膜の厚さの変動によるものと想定される。